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1.
Análisis estadístico con SPSS para Windows / Bienvenido Visauta Vinacua, Joan Carles Martori I Cañas

por Visauta Vinacua, Bienvenido | Martori I Cañas, Joan Carles; coaut.Ì.

Edición: 2Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: España: McGraw Hill Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Plantel LeonSignatura topográfica: 519.53 V822A (1).

2.
Estadistica / Murray R. Spiegel

por Spiegel, Murray R.

Edición: 2Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Madrid : McGraw-Hill Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Plantel LeonSignatura topográfica: 519.5 S755E (1).

3.
Estadistica aplicada a los negocios y a la economía / Douglas A. Lind

por Lind, Douglas A [ , autor] | Marchal, William G [ , autor] | Wathen, Samuel Adam [ , autor] | Yescas Milanés, Jorge [ , traductor ] | León Cárdenas, Javier [ , traducctor].

Edición: 13a. ediciónTipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: México : McGraw Hill , 2008Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Plantel Cd. AztecaSignatura topográfica: HA29 L5518 2008 (3), Plantel CentroSignatura topográfica: HA29 L54518 (2008) (2), Plantel IztapalapaSignatura topográfica: HA29 L5518 2008 (2), Plantel ErmitaSignatura topográfica: HA29 L5518 2008 (1), Plantel LeonSignatura topográfica: 519.5 L64e 2008 (3), Plantel San AngelSignatura topográfica: HA29 L54 2005 (2), Plantel Toreo - NaucalpanSignatura topográfica: HA35 L5618 2005 (5), Plantel TolucaSignatura topográfica: HA29 L5518 2008 (2), Plantel Viaducto "Lic. Miguel Aleman Valdes"Signatura topográfica: HA29 L5518 2008 (3), Plantel CuautitlanSignatura topográfica: HA29 L5518 2008 (2), Plantel Tlalpan "Lic. Javier Campos Ycardo"Signatura topográfica: 519.5 L64e 2008 (1), Plantel ChalcoSignatura topográfica: HA29 L5518 2008 (1), Plantel TlalnepantlaSignatura topográfica: HA29 L5518 2008 (1).

4.
Estadística aplicada a los negocios y a la economía / Douglas A. Lind

por Lind, Douglas A [autor] | Marchal, William G [autor] | Wathen, Samuel Adam [autor] | León Cárdenas, Javier [traductor] | Obon León, María del Pilar [traductora].

Edición: 15a. ediciónTipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: México : McGraw-Hill , 2012Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Plantel TlahuacSignatura topográfica: HA29 L5518 2012 (2), Plantel CentroSignatura topográfica: HA29 L54518 (1), Plantel TlalnepantlaSignatura topográfica: HA29 L54518 2012 (1), Plantel Via MorelosSignatura topográfica: HA29 L7421 2012 (1), Plantel CuautitlanSignatura topográfica: HA29 L5518 2012 (2), Plantel OrienteSignatura topográfica: HA29 L5418 2012 (2), Plantel Viaducto "Lic. Miguel Aleman Valdes"Signatura topográfica: HA29 L545 2012 (4), Plantel NorteSignatura topográfica: HA29 L54518 2012 (2), Plantel San AngelSignatura topográfica: HA29 L54 2012 (1), Plantel SurSignatura topográfica: HA29 L545 2012 (2), Plantel Cd. AztecaSignatura topográfica: HA29 L5518 2012 (3), Plantel ErmitaSignatura topográfica: HA29 L5518 2012 (4), Plantel TolucaSignatura topográfica: HA29 L5518 2012 (2), Plantel LeonSignatura topográfica: 519.5 L64e 2012 (1), Plantel ChalcoSignatura topográfica: HA29 L5518 2012 (3).

5.
Control estadístico de calidad y seis sigma / Humberto Gutíerrez Pulido, Roman de la Vara Salazar

por Gutiérrez Pulido, Humberto | Vara Salazar, Roman de la; coaut.Ì.

Edición: 2Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: México : McGraw-Hill Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Plantel LeonSignatura topográfica: 658.562 G893C (1).

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