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Reconocimiento de patrones : avances y perspectivas / editado por Juan Luis Diaz de Leon Santiago y Cornelio Yañez Marquez. - Mexico : Instituto Politecnico Nacional, Centro de Investigacion en Computacion - ix, 485 p. : il. ; 23 cm. - Research on computing science ; v. 1 .

Incluye referencias bibliograficas e indice.

ISBN: 970-189476-6

Subjects--Topical Terms:
reconocimiento de patrones.

LC Class. No.: Q327 R4 2002