Muestreo : diseño y analisis / Sharon L. Lohr ; traducción Óscar Alfredo Palmas Velasco
Por: Lohr, Sharon L [autor]
Colaborador(es): Palmas Velasco, Oscar Alfredo [traductor]
Tipo de material: TextoEditor: México : International Thomson , 2000Descripción: xiii, 480 páginas ; 25 cmISBN: 9706860177Títulos uniformes: Sampling: Design and Analysis. Español Tema(s): MUESTREO (ESTADÍSTICA)Clasificación CDD: 519.52 Clasificación LoC:HA31.2 | L6418Tipo de ítem | Biblioteca actual | Signatura | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras |
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Libro | Plantel Cd. Azteca | HA31.2 L6418 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 05 000584 | |
Libro | Plantel Cd. Azteca | HA31.2 L6418 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 04 000921 | |
Libro | Plantel Cd. Azteca | HA31.2 L6418 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 2 | Disponible | 04 000922 | |
Libro | Plantel Cd. Azteca | HA31.2 L6418 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 3 | Disponible | 04 000923 | |
Libro | Plantel Cd. Azteca | HA31.2 L6418 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 2 | Disponible | 05 000585 | |
Libro | Plantel Leon | 519.52 L833M (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 15 001607 | |
Libro | Plantel Leon | 519.52 L833M (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 15 000350 | |
Libro | Plantel Norte | HA31.2 L6418 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 03 005257 | |
Libro | Plantel Oriente | HA31.2 L6418 2000 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 06 001205 | |
Libro | Plantel Tlahuac | HA31.2 L6418 2000 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 08 001426 | |
Libro | Plantel Tlahuac | HA31.2 L6418 2000 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 2 | Disponible | 08 001427 | |
Libro | Plantel Tlahuac | HA31.2 L6418 2000 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 3 | Disponible | 08 001428 | |
Libro | Plantel Tlahuac | HA31.2 L6418 2000 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 4 | Disponible | 08 001429 | |
Libro | Plantel Tlalnepantla | HA31.2 L6418 2000 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 07 000082 |
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Incluye índice de autores (pp. 471-473)
Incluye: índice analítico (pp. 475-480)
Bibliografía: (pp. 445-470)
Muestras de probabilidad simples
Estimación por razones y por regressión
Muestreo estratificado
Muestreo por conglomerados con probabilidades idénticas
Muestreo con probabilidades diferentes
Encuestas complejas
Ausencia de respuesta
Estimación de la varianza en encuestas complejas
Análisis de datos categóricoss en encuestas complejas
Regresión con datos de encuestas complejas
Otros temas de muestreo
Conceptos de probabilidad utilizados en muestreo
Conjunto de datos
Código de computadora usado para los ejemplos
Tabla estadística
Material Complementario / (04 000921)
Material Complementario / (04 000922)
Material Complementario / (04 000923)
Material Complementario / (05 000584 ; 05 000585)
Material Complementario / Administración / (06 001205)
Material Complementario / (03 005257)
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