Reconocimiento de patrones : avances y perspectivas / editado por Juan Luis Diaz de Leon Santiago y Cornelio Yañez Marquez. 

 - Mexico : Instituto Politecnico Nacional, Centro de Investigacion en Computacion 
 - ix, 485 p. : il. ; 23 cm. 
 - Research on computing science ; v. 1 .
<br/><br/>Incluye referencias bibliograficas e indice. 
<br/><br/><label>ISBN: </label>970-189476-6 
<br/><br/><label>Subjects--Topical Terms: </label><br/>reconocimiento de patrones.
<br/><br/><label>LC Class. No.: </label>Q327 R4 2002